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FISCHERSCOPE XDAL237 x射線鍍層測(cè)厚儀 來自德國(guó)菲希爾的X射線熒光測(cè)量?jī)x，帶有快速可編程的XY平臺(tái)和Z軸，可自動(dòng)測(cè)量薄涂層厚度和進(jìn)行材料分析。 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器可以用來測(cè)量SnPb焊層中的鉛含量。

菲希爾XDLM-pcb200代理 測(cè)量印制電路板上鍍層厚度及成分分析的入門級(jí)、耐用型測(cè)量?jī)x。用于測(cè)量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的X射線熒光測(cè)量?jī)x器。FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB儀器是專門用于測(cè)量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的堅(jiān)固耐用的入門級(jí)儀器

菲希爾xulm-240 對(duì)于FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列來說，X射線源和接收器位于測(cè)量室的下方，這樣可以快速方便地定位樣品。除此以外，視頻窗口也可以輔助定位，儀器前方的大控制臺(tái)簡(jiǎn)化了操作

菲希爾 X-RAY 能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測(cè)量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測(cè)量。

菲希爾X-RAY XDV-µ SEMI全自動(dòng)熒光分析儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ SEMI 是一款全自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)。針對(duì)半導(dǎo)體行業(yè)復(fù)雜的 2.5D/3D 封裝應(yīng)用中的微結(jié)構(gòu)質(zhì)量控制進(jìn)行了優(yōu)化。全自動(dòng)分析可避免損壞寶貴的晶圓材料。