DualScope FMP40膜厚儀原理的詳細(xì)資料：

DualScope FMP40膜厚儀原理

DualScope FMP40膜厚儀原理?     

    菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀 能夠自動識別底材材料并且集成了兩種測量方法，使這個(gè)系列的儀器可以測量鋼材和鐵材亦或是非鐵磁基材上的大部分涂鍍層的厚度。 菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀由于集合了兩種測量方法，這個(gè)系列的儀器還能夠在一次測量過程中同時(shí)測得兩層涂鍍層的厚度（油漆層/鋅層），并且分別顯示出來。

DUALSCOPE FMP40涂鍍層測厚儀采用了磁感應(yīng)和電渦流兩種方法。
磁感應(yīng)方法：
    通過探頭的激勵電流產(chǎn)生一個(gè)低頻磁場區(qū)域，該磁場的強(qiáng)度取決于涂鍍層厚度并經(jīng)磁性基材放大。測量線圈捕獲這個(gè)放大信號，然后通過儲存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線將信號轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度。

       采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時(shí)，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應(yīng)電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。一些電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制測量信號。還采用設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī)，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高(幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級)?，F(xiàn)代的磁感應(yīng)測厚儀，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%，量程達(dá)10mm。

磁性原理測厚儀可應(yīng)用來測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。

電渦流方法：
通過探頭的激勵電流產(chǎn)生一個(gè)高頻初級磁場區(qū)域，該磁場在基材內(nèi)產(chǎn)生感生電渦流，次級磁場區(qū)域削弱初級磁場區(qū)域，削弱影響相當(dāng)于探頭和基材之間的距離即涂鍍層的厚度，然后通過儲存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線將削弱影響轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度值顯示出來。

高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場，測頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測厚儀一樣，渦流測厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可測量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類任務(wù)還是采用磁性原理測量較為合適

This universal instrument can be used to measure numerous coatings both on iron/steel and on non-ferromagnetic metals and non-conducting carrier materials.