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德國(guó)Fischer電解退鍍測(cè)厚儀 根據(jù)庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差。很多常見(jiàn)的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可以用CMS2簡(jiǎn)單快速地測(cè)量。這個(gè)方法為任何金屬鍍層提供了準(zhǔn)確的測(cè)量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm內(nèi)， 很多材料不需要預(yù)設(shè)定；基材組成和幾何形狀對(duì)于測(cè)量都是無(wú)關(guān)緊要的。

江蘇 SMP350電導(dǎo)率儀 SIGMASCOPE® SMP350 根據(jù)渦流相位法DIN EN 2004-1 和 ASTM E 1004 測(cè)量電導(dǎo)率。 這種方法允許無(wú)接觸測(cè)量，即使隔著油漆或者厚達(dá)500μm的塑料涂層，這種方法也幾乎不受表面粗糙度的影響。

鐵素體含量用什么檢測(cè)比較準(zhǔn) 鐵素體含量測(cè)量（在Nusatek中也稱為鐵素體測(cè)試）是一種非破壞性測(cè)試，通常在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行。該測(cè)試使用了來(lái)自Fischer的便攜式Feritscope機(jī)器。這種便捷的設(shè)備通過(guò)使用高度移動(dòng)的數(shù)字技術(shù)來(lái)提供快速而準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。鐵素體含量測(cè)量用于測(cè)量不銹鋼焊縫和雙相鋼中的鐵素體值。

菲希爾X-RAY XDV-µ SEMI全自動(dòng)熒光分析儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ SEMI 是一款全自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)。針對(duì)半導(dǎo)體行業(yè)復(fù)雜的 2.5D/3D 封裝應(yīng)用中的微結(jié)構(gòu)質(zhì)量控制進(jìn)行了優(yōu)化。全自動(dòng)分析可避免損壞寶貴的晶圓材料。

POROSCOPE HV5, HV20, HV40孔隙率測(cè)試儀 POROSCOPE 系列，作為一款堅(jiān)固耐用的便攜式測(cè)量設(shè)備，非常適合快速、簡(jiǎn)便地測(cè)試非導(dǎo)電保護(hù)涂層，甚至可發(fā)現(xiàn)非常細(xì)微的小孔和裂痕。提供三種具有不同測(cè)試電壓范圍的儀器版本：