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PhaScope PMP10 鍍鎳層測厚儀簡介
點擊次數:233 更新時間:2025-07-18 打印本頁面 返回

PhaScope PMP10 鍍鎳層測厚儀簡介

設備概述

PhaScope PMP10 是一款手持式設備,主要用于對多種基材上的導電涂層厚度進行非破壞性測量,尤其適用于小型結構和粗糙表面的測量場景。

設備特點

作為手持式儀器,它依據相位敏感電渦流法實現鍍層厚度的快速、準確測量,且符合 DIN ENISO 21968 標準。

配備不同探頭可滿足多種測量需求:搭配頻率為 60 kHz 或 240kHz 的探頭 ESD20Cu,能測量印刷電路板上的銅厚度;借助探頭 ESL080,可測量印刷電路板中孔銅厚度;還能對鐵、非鐵金屬或非導電部件上的金屬涂層厚度進行測量。

儀器附帶計算機端軟件 FISCHER DataCenter,該軟件功能豐富,可傳輸保存測量值,進行全面的統計性和圖形化評估,還能輕松生成并打印檢驗報告。

典型應用領域

測量鋼鐵上的鋅、銅或鋁鍍層時,可使用適合粗糙表面的探頭 ESD20Zn。

針對鋼制小部件上的鋅鍍層,可選用用于較小測量面積的探頭 ESD2.4。

測量鋼鐵上的電鍍鎳層,可搭配探頭 ESD20Ni(頻率 60 KHz 或 240 kHz)。


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