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菲希爾X射線測厚儀分析信息
點擊次數(shù)：377 更新時間：2025-04-28 打印本頁面 返回
菲希爾 X 射線熒光鍍層測厚儀基于 X 射線熒光分析原理。當儀器發(fā)射的 X 射線照射到樣品表面時，鍍層及基體材料中的原子會吸收 X 射線的能量，使內層電子被激發(fā)并躍遷到高能級。當這些電子回到低能級時，會釋放出具有特定能量的熒光 X 射線。不同元素發(fā)射的熒光 X 射線能量不同，通過檢測這些熒光 X 射線的能量和強度，結合儀器內置的校準曲線和算法，就可以精確測量出鍍層的厚度以及元素組成。
一）高精度測量
菲希爾 X 射線熒光鍍層測厚儀采用先進的探測器和信號處理技術，能夠實現(xiàn)對鍍層厚度的高精度測量。其測量精度可以達到微米甚至納米級別，能夠滿足各種精密工業(yè)生產的需求。例如，在電子元器件制造中，對于芯片引腳的鍍鎳、鍍金層厚度的測量，能夠確保鍍層厚度均勻且符合設計要求，從而提高電子元器件的性能和可靠性。
（二）多元素分析
該儀器不僅可以測量鍍層厚度，還能夠同時分析鍍層中的多種元素及其含量。通過對元素組成的分析，可以判斷鍍層的質量和成分是否符合標準。比如在珠寶制造行業(yè)，通過分析金銀飾品表面鍍層中的元素成分，可以檢測出是否存在雜質或其他合金元素，確保產品的純度和質量。
（三）非接觸式測量
采用非接觸式測量方式，不會對樣品表面造成損傷，適用于各種形狀和尺寸的樣品。無論是平面、曲面還是不規(guī)則形狀的工件，都可以進行準確測量。這在汽車制造、航空航天等行業(yè)中具有重要意義，因為這些行業(yè)的零部件往往具有復雜的形狀和高精度的要求。
